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三菱plc編程軟件中上升沿觸點(diǎn)和向下沿觸點(diǎn)指令
PLS上升沿微分脈沖輸出指令。它將指定信號(hào)上升沿進(jìn)行微分后,輸出一個(gè)脈沖寬度為一個(gè)掃描周期的脈沖信號(hào)。
PLF下降沿微分脈沖輸出指令。它將指定信號(hào)下降沿進(jìn)行微分后,輸出一個(gè)脈沖寬度為一個(gè)掃描周期的脈沖信號(hào)。
PLS和PLF只有在輸入信號(hào)變化時(shí)才有效。
數(shù)字電平從低電平(數(shù)字“0”)變?yōu)楦唠娖?數(shù)字“1”)的那一瞬間(時(shí)刻)叫作上升沿。數(shù)字內(nèi)電路中,數(shù)字電平容從高電平(數(shù)字“1”)變?yōu)榈碗娖?數(shù)字“0”)的那一瞬間叫作下降沿。
數(shù)字電路中,把電壓的高低用邏輯電平來表示。邏輯電平包括高電平和低電平這兩種。不同的元器件形成的數(shù)字電路,電壓對(duì)應(yīng)的邏輯電平也不同。在TTL門電路中,把大于3.5伏的電壓規(guī)定為邏輯高電平,用數(shù)字1表示;把電壓小于0.3伏的電壓規(guī)定為邏輯低電平,用數(shù)字0表示。
測(cè)試技術(shù)
數(shù)字電路在正確設(shè)計(jì)和安裝后須經(jīng)嚴(yán)格的測(cè)試方可使用。事實(shí)上,在邏輯設(shè)計(jì)階段就應(yīng)該考慮到數(shù)字電路的測(cè)試。如果對(duì)電路的測(cè)試目的只是為了檢查電路是否發(fā)生了故障,則稱這種測(cè)試為數(shù)字電路的故障檢測(cè)。
對(duì)電路的邏輯功能的測(cè)試稱為功能測(cè)試或靜態(tài)測(cè)試;對(duì)電氣特性或時(shí)間特性的測(cè)試稱為動(dòng)態(tài)測(cè)試;如果測(cè)試的目的不僅是為了檢查電路是否有故障,而且還要確定發(fā)生故障的部位,則稱這種測(cè)試為故障定位。
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